如何进行半导体老化测试?
通过进行老化测试来复制实际的现场应力环境有助于降低故障率。老化测试对于确保生产线的质量控制至关重要。
两箱式冷热冲击试验箱(又名高低温冲击试验箱)是一种用于测试产品耐受能力的设备,通过不断变换温度,检测产品是否出现受损情况,产生的热效应和冷却效应都会模拟各种极端场景中的气候变化。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷,也可用于环境应力筛选,剔除产品的早期故障,试验的严苛程度取决于高低温范围、驻留时间、温度转换时间、循环数等因素。
应用
适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片、半导体、高分子等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。
规格标准
GB/T 2423.22-2002温度变化试验;
GJB 150.5-86温度冲击试验;
GJB 360.7-87温度冲击试验;
GJB 367.2~87405温度冲击试验;
满足GB/T 2423.22(IEC 60068-2-14);ISO16750;
IPC-TM-650;JESD 22等。
技术规格
内箱容积 | 72L | 150L | |||||
W*H*D (mm) |
内 | 400×450 x400 | 500×600×500 | ||||
外 | 1350×1770×1555 | 1450×1920×1655 | |||||
温度范围 | 高温 | +150℃ | |||||
低温 | -65℃ | ||||||
升温时间 | 常温~+200℃≤30 min | ||||||
降温时间 | A(+20℃~-55℃)≤70 min;B(+20℃~-65℃)≤80 min;C(+20℃~-80℃)≤90 min |
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