如何进行半导体老化测试?
通过进行老化测试来复制实际的现场应力环境有助于降低故障率。老化测试对于确保生产线的质量控制至关重要。
HAST高加速寿命试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性,这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到模具/装置上.测试已成为某些行业的标准,特别是在半导体,太阳能和其他工业中,作为标准温度湿度偏差测试(85C/85%RH-1000小时)的快速有效替代方案。
设备特点
标准设计更安全:内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范;
多重保护功能:各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护;
稳定性更高:控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式,确保测试稳定性;
湿度自由选择:饱和与非饱和自由设定;
智能化高:支持电脑连接,利用usb数据、曲线导出保存。
技术规格
型号 | HAST-400 | ||||||
温度范围 | +105℃~+150℃ | ||||||
主机尺寸 | 970MM*710MM*1700MM(W*D*H) | ||||||
湿度范围 | 65%~100%RH | ||||||
压力范围 | 0.019~0.208MPA |
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