HAST老化试验箱（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技术是一种在芯片行业常用的测试方法，用于模拟芯片在实际使用中可能遇到的极端环境和高温高湿的工作环境，以检验芯片的可靠性和寿命。HAST测试的原理是将芯片放置在高温高湿的环境中，在一定时间内进行加速老化测试，以模拟长时间使用后可能出现的问题。通过这种测试方法，可以在短时间内检验芯片的可靠性和寿命，从而提高产品的质量和可靠性。

HAST老化试验箱的主要作用包括：

加速老化：通过提供高温、高湿和高气压环境，加速产品老化过程，以模拟产品在实际使用环境下的长期老化情况。

验证产品可靠性：测试产品在高温、高湿和高气压条件下是否能够正常运行，并且没有失效或性能下降，有助于产品设计人员了解产品在恶劣环境下的表现，并对产品进行改进和优化。

筛选不合格产品：在高压加速老化试验中，如果产品出现失效或性能下降，那么它们将被视为不合格产品，有助于生产过程中排除不合格产品，提高产品质量。

降低产品开发周期：由于HAST试验箱可以加速产品老化过程，使得产品可靠性和寿命的验证可以更快地完成，有助于缩短产品的研发周期，降低产品开发成本。

HAST老化试验箱的特点：

标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；

多重保护功能：各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；

稳定性更高：内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度。

湿度自由选择：饱和与非饱和自由设定；

智能化高：支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存。