高低温冲击气流仪 TS-760热测机设备搭配 Keysight 仪器机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 温度测试解决方案. 高低温冲击气流仪 TS-760 GPIB通讯（IEE488）完美兼容Keysight 仪器软件, 操作简单.

功率器件温度测试案例一:

高低温冲击气流仪TS-760配合成都中冷低温科技Thermo-Chuck冷热台产品，并搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试.通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermo-Chuck冷热台上即可.

功率器件温度测试案例二:

高低温冲击气流仪 HTS-300 高温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供常温~250℃的温度测试环境.测试时, 只需将待测功率器件放置在高温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和高低温冲击气流仪的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.

同时，高低温冲击气流仪 TS-780高低温冲击测试机也有搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, 只要将热流罩放置于测试腔之上, 就可以在开放环境中快速进行检测.