分选机 sorter/探针台prober的特点
分选机和探针台是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来并实现批量自动化测试的专用设备。
2025-03-04 16:08:58
TFT薄膜晶体管的可靠性评测
2025-01-17 11:25:16
TFT（Thin Film Transistor，薄膜晶体管）的可靠性评测是一个综合性的评估过程，是确保TFT液晶屏等电子产品质量和性能稳定的重要环节。TFT的可靠性评测项目众多，评测结果将直接影响TFT液晶屏的质量和性能评估。通过评测，可以筛选出性能稳定、质量可靠的TFT液晶屏，为电子产品提供优质的显示解决方案。
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TFT类型 |
测试项目 |
取值说明 |
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LTPS PMOS TFT DTFT/STFT |
NBTS |
•T=70℃，Vg=-30V，Vd=0V，Vs=0V •每隔一段时间提取一次IDVG曲线，一般选取0、10、100、1000、1800、3600、7200s时间点 •计算ΔVth@7200s-0s |
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PBTS |
•T=70℃，Vg=30V，Vd=0V，Vs=0V •每隔一段时间提取一次IDVG曲线，一般选取0、10、100、1000、1800、3600、7200s时间点 •计算ΔVth@7200s-0s |
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HCI |
•T=25℃，Vg=-15V，Vd=-30V，Vs=0V •每隔一段时间提取一次IDVG曲线，一般选取0、10、100、1000、1800、3600、7200s时间点 •计算ΔVth@7200s-0s |
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HYS |
•T=25℃，Vd=-5.1V，Vs=0V •Vg扫描从15→-15V，再从-15→15V •计算两条IDVG曲线的ΔVth |
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CBTS |
•T=70℃，Vg=L255灰阶电压，Vd=L255灰阶电压 •每隔一段时间提取一次IDVG曲线，一般选取0、10、100、1000、1800、3600s时间点 •计算ΔVth@3600s-0s |
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光照 |
•对样品进行一定强度光照，测试光照前后IDVG曲线，计算ΔVth和ΔSS | |
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加热 |
•对样品进行加热（25→40→60→80℃），测试每个温度下的IDVG曲线，计算ΔVth和ΔSS |
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