ATE，全称Automatic Test Equipment，即芯片自动测试机台，是芯片晶圆以及芯片封装后，实施功能及性能测试的自动化设备。ATE测试是芯片设计-制造-应用产业链中，不可缺失的重要环节。

       ATE机台根据测试芯片的类型不同，可分为存储器测试系统、数字电路测试系统、模拟电路测试系统和混合信号电路测试系统四大类。各类ATE机台在测试原理、测试资源、测试速度和精度等方面各具特点，可根据具体测试需求进行选择和应用。

1.存储器测试系统

       存储器测试系统主要针对存储器进行测试，基本原理是通过写入一些数据，再校验读回的数据进行测试。存储器测试机的特点包括：针对存储器的特定测试需求设计，具有高效的数据写入和读取能力；支持大量的引脚并测，满足存储器芯片的高密度测试需求；具有较高的测试速度和精度，确保存储器的可靠性和稳定性。

2.数字电路测试系统

       数字电路测试系统主要用来测试数字逻辑芯片，如CPU、GPU、AI芯片等。数字电路测试系统的特点包括：每个管脚有独立测试资源，满足数字芯片的高精度测试需求；支持复杂的时序测试，确保数字电路的功能正确性；具有较高的测试速度和吞吐量，适用于大规模数字电路的量产测试。

3.模拟电路测试系统

       模拟电路测试系统主要用来测试模拟芯片，如电源管理芯片和信号链芯片等。模拟电路测试对生成和测量的电压/电流精度有严格要求。模拟电路测试系统的特点包括：高精度和稳定性，确保模拟电路的测试准确性；支持多种模拟信号的测试，如电压、电流、频率等；提供丰富的测试资源，如可编程电源、精密测量单元等，满足模拟电路的测试需求。

4.混合信号电路测试系统

       混合信号电路测试系统主要用于测试混合信号芯片，这类芯片同时包含数字和模拟电路，如MCU芯片、ADC（模数转换器）和DAC（数模转换器）等信号转换芯片。混合信号电路测试系统的特点包括：同时支持数字和模拟信号的测试，满足混合信号芯片的测试需求；提供高精度的测试资源，确保数字和模拟信号的测试准确性；具有较强的灵活性和可扩展性，可根据具体测试需求进行配置和升级。

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