Bscan（Boundary Scan，边界扫描）是一种用于芯片测试和调试的技术，主要用于检测和诊断芯片内部或PCB（印刷电路板）上的互连故障。它是JTAG（Joint Test Action Group, IEEE 1149.1）标准的一部分，广泛用于数字电路的测试、调试和故障分析。

     1.Bscan的基本原理

     Bscan技术通过在芯片的I/O引脚周围添加边界扫描单元（Boundary Scan Cells），形成一个可控的数据通道。它的工作流程如下：

     （1）测试访问端口（TAP，Test Access Port）：芯片内部包含一个TAP控制器，允许外部设备通过JTAG接口访问芯片。

     （2）边界扫描寄存器（Boundary Scan Register）：每个I/O引脚对应一个寄存器单元，用于存储和传输测试数据。

     （3）扫描链（Scan Chain）：多个Bscan单元连接成串行链路，使测试数据可以逐步传输和分析。

     （4）模式选择：

     旁路模式（Bypass）：允许信号正常传输，不影响芯片功能。

     测试模式（Test Mode）：激活Bscan单元，使其能够捕获、存储和转发数据，进行测试。

     2.Bscan的主要应用

     PCB板测试：检测焊接不良、短路、开路等连接问题。

     芯片级测试：对SoC、FPGA等芯片进行内部连接性检查。

     系统调试（In-System Debugging）：用于软件开发中的调试，如调试CPU、存储器等外设。

     IC老化测试（Burn-in Test）：在高温或长时间运行后检查芯片可靠性。

     3.Bscan在半导体测试中的作用

     在芯片的CP（晶圆测试）和FT（成品测试）阶段，Bscan可用于：发现封装后芯片的I/O互连问题，提高测试覆盖率；结合ATE（自动测试设备）进行结构级测试，提高测试效率；作为调试手段，分析复杂的功能失效。

     Bscan的优势在于无需物理探针即可进行电气测试，适用于现代高密度PCB和复杂芯片结构，在芯片制造、组装及系统级测试中具有重要作用。

     4.Bscan和 Scan区别

     Bscan（Boundary Scan）和 Scan（Scan Chain，扫描链）是两种用于芯片测试的技术，它们在应用场景、实现方式和测试目的上有所不同。

     （1）定义与基本区别

     （2）形象理解

     Bscan = 外部互连测试（I/O 级别） → 检查芯片外部和 PCB 的连接是否正常。

     Scan = 内部逻辑测试（门级/寄存器级） → 检查芯片内部逻辑是否正常。

     在芯片测试流程中，Bscan 主要用于 I/O 互连测试，而 Scan 主要用于 ATPG 逻辑测试，两者可以结合使用，以提升芯片的测试覆盖率。

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