CP(Chip Probing)测试的主要步骤有哪些?
CP测试现场通常由三类核心设备构成:ATE(Automated Test Equipment,自动测试设备)、Prober(Wafer Prober,晶圆探针台)和Probe Card(探针卡)。
2026-09-02 11:05:25
在实验室操作中,每天都会使用到各种化学药品、化学试剂、生物试剂、仪器设备,某些实验条件下,还会遭受诸如:高温、低温、高压、真空和辐射源的伤害,特别是使用气体时,对气体存储安置不当,如平放或倒置气瓶、气体阀门长时间不检修造成气体泄漏所引起的毒害,爆炸等潜在危险情况。让我们一起来了解气体的禁忌吧!
