芯片Burn In测试的特点、优势及应用
Burn-in是一种专门设计的测试向量,用于在芯片老化测试过程中激活芯片内部的各个模块,确保芯片在高温、高电压等加速应力条件下能够正常工作,从而提前发现潜在的缺陷和故障,提高芯片的可靠性和质量。
2025-05-13 11:38:03
现在被称作半导体器件的种类如下所示。按照其制造技术可分为分立器件半导体、光电半导体、逻辑IC、模拟IC、存储器等大类,一般来说这些还会被再分成小类。IC除了在制造技术上的分类以外,还有以应用领域、设计方法等进行分类,如按其所处理的信号可以分成模拟、数字、模拟数字混成及功能IC,以及按IC、LSI、VLSI(超大LSI)及其规模进行分类等。如下图表: