CP(Chip Probing)测试的主要步骤有哪些?
CP测试现场通常由三类核心设备构成:ATE(Automated Test Equipment,自动测试设备)、Prober(Wafer Prober,晶圆探针台)和Probe Card(探针卡)。
2026-09-02 11:05:25
现在被称作半导体器件的种类如下所示。按照其制造技术可分为分立器件半导体、光电半导体、逻辑IC、模拟IC、存储器等大类,一般来说这些还会被再分成小类。IC除了在制造技术上的分类以外,还有以应用领域、设计方法等进行分类,如按其所处理的信号可以分成模拟、数字、模拟数字混成及功能IC,以及按IC、LSI、VLSI(超大LSI)及其规模进行分类等。如下图表:
